회로 기판의 품질 및 신뢰성 테스트! 리지드 플렉스 회로 기판

1. 품질 및 신뢰성 지표

   일반적으로 품질 신뢰성의 측정 방법이 다르며 사용 된 샘플링 개념도 다릅니다. 품질 지표는 주로 수량에 초점을 맞추기 때문에 채택 된 개념은 통계 방법을 통해 결함이있는 제품의 비율을 얻는 것이며 일반적으로 사용되는 계산 모델은 백만 개당 일회성 제품입니다. 신뢰성 지표는 제품의 장기적인 사용에 중점을 둡니다.

   두 가지 주요 방법이 있습니다.

   (1) 오랜 시간 동안 적은 수의 샘플

   (2) 단기간 동안 많은 수의 샘플, 고장 시간은 공통 언어이며, FIT의 각 단위는 구성 요소의 10 억 작동 시간 당 하나의 고장 확률을 의미합니다.

2. 신뢰성 선언문

신뢰성의 계산 벤치 마크는 일반적으로 다음과 같이 간단한 신뢰성 방정식으로 표현됩니다 : R (t) = 1-F (t)

F(t)로 표현되는 의미는 실패율입니다. 일반 실패율 함수에는 네 가지 주요 오류 유형, 즉 순간 실패율, 평균 실패율, 평균 실패율 발생 시간 및 평균 실패 시간 간격이 포함됩니다. 복구되거나 복구된 오류 조건입니다.

번인 테스트 프로세스를 사용하여 제조업체는 조기 제품을 보다 엄격한 방식으로 제거할 수 있습니다. 노화 테스트의 조건, 조기 사망 기간과 정상 기간의 경계를 설정하는 방법에 관해서는,이 부분은 사전에 신중하게 평가되어야합니다. 특히 최근 몇 년 동안 전자 제품의 수명주기와 교체율이 크게 변경되었으며 많은 테스트 사양은 초기 미군 사양 또는 통신 시스템 제품 사양입니다. 동일한 표준을 따르든 다운그레이드를 수행하든 주의를 기울여야 합니다.